一、電子產(chǎn)品的可靠性試驗介紹：

為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。試驗?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫妫?/SPAN>

  1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標(biāo)的情況。

  2、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息。

  3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收。

  4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理。

  5、為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。 

對于不同的產(chǎn)品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法?？煽啃栽囼炗卸喾N分類方法，如以環(huán)境條件來劃分，可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗。以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗。若按試驗?zāi)康膩韯澐?，則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗。若按試驗性質(zhì)來劃分，也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類，即環(huán)境試驗、壽命試驗、篩選試驗、現(xiàn)場使用試驗和鑒定試驗。 

  1、環(huán)境試驗是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力，是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。 

  2、壽命試驗是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。壽命試驗是可靠性試驗中zui重要zui基本的項目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析，可進一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機理，作為可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)測、改進新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應(yīng)力的方法進行試驗，這就是加速壽命試驗。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。 

  3、篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。 

二、可靠性篩選試驗的特點是：

1、這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗。

2、該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個產(chǎn)品的壽命。

3、不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。淘汰率高，有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴重缺陷，但也有可能是篩選應(yīng)力強度太高。淘汰率低，有可能產(chǎn)品缺陷少，但也可能是篩選應(yīng)力的強度和試驗時間不足造成的。 

通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來評價篩選方法的優(yōu)劣：合理的篩選方法應(yīng)該是β值較大，而Q值適中。 

上述各種試驗都是通過模擬現(xiàn)場條件來進行的。模擬試驗由于受設(shè)備條件的限制，往往只能對產(chǎn)品施加單一應(yīng)力，有時也可以施加雙應(yīng)力，這與實際使用環(huán)境條件有很大差異，因而未能如實地、全面地暴露產(chǎn)品的質(zhì)量情況?，F(xiàn)場使用試驗則不同，因為它是在使用現(xiàn)場進行，故zui能真實地反映產(chǎn)品的可靠性問題，所獲得的數(shù)據(jù)對于產(chǎn)品的可靠性預(yù)測、設(shè)計和保證有很高價值。對制定可靠性試驗計劃、驗證可靠性試驗方法和評價試驗性，現(xiàn)場使用試驗的作用則更大。 

鑒定試驗是對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價時而做的試驗。它是根據(jù)抽樣理論制定出來的抽樣方案。在保證生產(chǎn)者不致使質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品被拒收的條件下進行鑒定試驗。

三、可靠性試驗方法：

    電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。 

    *種方法是“試驗——問題記錄——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進行改進，而是把問題記錄下來，待在一個試驗階段結(jié)束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機理，集中地進行改進，然后再進行試驗。采用這種試驗法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進。這種試驗法，比較適用于一批試驗機中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。 

    第二種方法是“試驗——改進——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機理，找出問題就立即改進，然后再試驗證實所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進行必要的改進是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴重問題的情況，針對性較強。 

    第三種方法是“含延緩改進的試驗——改進——再試驗"模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題，有些改進在試驗中了產(chǎn)品的問題，有些改進在試驗中立即著手進行，有些延緩到試驗結(jié)束后再作改進。在試驗中，對能及時改進的問題，立即采取措施改進產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗階段結(jié)束后，把延緩的問題至下次試驗開始前進行改進，然后再進行試驗，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進的，另一些問題卻需要相當(dāng)一段時間才能改進的綜合情況。 

    對于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應(yīng)用?？煽啃栽囼炛谐Ｓ玫娜N方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長，另外可靠性試驗除通過系統(tǒng)試驗外，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié)，進行綜合的科學(xué)分析，做相應(yīng)的改進，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段對其固有可靠性有進一步的提高。 

四、結(jié)束語 

電子產(chǎn)品的可靠性十分重要，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國電子儀器的可靠性試驗遵循的標(biāo)準(zhǔn)是GB11463《電子測量儀器可靠性試驗》，一般產(chǎn)品在鑒定時的可靠性指標(biāo)是300H，如果按常用的定時截尾試驗方案進行可靠性考核，總的試驗時間要達到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段經(jīng)歷了反復(fù)多次的“試驗——分析——改進——再試驗"的可靠性增長試驗過程。在這個過程中，由于采取了改進設(shè)計及工藝措施等一系列措施來消除失效，使失效的發(fā)生逐漸減少，而可靠性得以增長。我國的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較先進標(biāo)準(zhǔn)還有差距，因此必須對國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計、生產(chǎn)、試驗和使用全過程中對可靠性水平作出準(zhǔn)確的評價，從而大大提高我國電子產(chǎn)品的可靠性水平，使產(chǎn)品質(zhì)量達到*水平。